DR-H308PCT高壓蒸煮老化試驗(yàn)箱依據(jù)GB/T 41203光伏組件封裝材料加速老化試驗(yàn)方法設(shè)計(jì)生產(chǎn)，適用于光伏組件用玻璃、封裝膠膜、背板，其他光伏組件封裝材料參照使用。將試樣放入高壓蒸煮老化試驗(yàn)箱，試驗(yàn)條件如下∶試驗(yàn)溫度121℃，相對(duì)濕度100%，光伏組件用玻璃試驗(yàn)時(shí)間宜為24h、48h、72h；封裝膠膜推薦試驗(yàn)時(shí)間為24h、48h、72h；光伏背板試驗(yàn)時(shí)間宜為24h、48h。關(guān)閉箱門，運(yùn)行

DR-H308泰州芯片PCT老化試驗(yàn)箱。PCT高壓老化試驗(yàn)箱的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等)，加快試驗(yàn)過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件和機(jī)械零件的磨耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。

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