IC-PCT飽和加速壽命老化試驗箱

IC-PCT飽和加速壽命老化試驗箱

PCT，即Pressure Cooker Test，也被稱為加速老化試驗，是一種模擬高溫高濕的環境條件的試驗方法。通過將產品放置在高溫高濕的環境中，加速產生各種老化現象，例如材料老化、電路老化等。通過持續測試和觀察，可以了解產品在長時間使用和暴露于惡劣環境中的情況，進而對其可靠性進行評估。

試驗箱采用高品質的材料和*進的技術，以確保試驗的準確性和穩定性。箱體采用厚重的不銹鋼材料制造，具有優異的耐腐蝕性和強度，能夠承受高溫和高濕的試驗環境。同時，裝備有*進的溫濕度控制系統，可以精確控制試驗過程中的溫度和濕度變化，保證試驗的穩定性和可靠性。

廣泛應用于電子、電器、汽車、機械等領域，用于對各種產品進行可靠性和耐久性的評估。例如，在電子行業中，可以用于測試電子元件、半導體芯片、電路板等在高溫高濕環境下的工作狀態和可靠性；在汽車行業中，可以用于測試汽車零部件的耐久性和性能表現。通過試驗箱的使用，可以加快產品的研發和改進流程，提高產品的質量和可靠性。

IC-PCT飽和加速壽命老化試驗箱技術參數：

規格

1.內箱尺寸: 300×450 mm(φ×D)圓形試驗箱.

2.外箱尺寸: 600×920×690 mm(W×H×D)

3.內箱材質 : SUS 316#不銹鋼板材質.

4.外箱材質： 高級烤漆。

5.溫度范圍 : 105℃～132℃.  (飽和蒸氣溫度).

6.濕度范圍 : 100%RH .  (飽和蒸氣濕度).

7.壓力范圍（表上壓力） : 0.2Kg/cm2～2.0 Kg/cm2或（2.2 Kg/cm2）控制點壓力 (安全壓力容量3.5Kg/cm2 ).

8.時間范圍: 0 ～ 999 小時可調.

9.溫度分布: ≤± 2.0℃.

10.升溫時間:常溫 ～ 135℃約40分鐘內. （控制點溫度）.

11.加壓時間:0.0Kg/cm2 ～ 2.2Kg/cm2 約45分鐘內（控制點壓力）.

12.控制對象:微電腦+P.I.D.+S.S.R自動演算控制飽和蒸氣溫度.

13.控制方式:微電腦PID控制.

14.控制精度: ≤± 0.5℃.

15.解析精度:0.1℃.