半導體IC蒸汽老化試驗箱

半導體IC蒸汽老化試驗箱簡介：

      蒸汽老化試驗箱適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產業電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗;半導體、被動組件、零件接腳氧化試驗。老化箱整體由SUS #304 不銹鋼制成，操作設定簡易，微電腦數位LED控制，具有時間設定功能，多重超溫保護、缺水切斷電熱等安全裝置。

半導體IC蒸汽老化試驗箱用途：

適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產業電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗;半導體、被動組件、零件接腳氧化試驗。

蒸汽老化試驗箱控制系統：

微電腦溫度控制器、LED數字顯示，PID+SSR控制,白金電阻溫度傳感器（PT-100），解析度0.1℃，全自動安全保護裝置。

蒸汽老化試驗機技術規格參數：

內部尺寸：500×400×170（W×H×D）mm；

外部尺寸:600×500×420（W×H×D）mm；

蒸屜尺寸:300×120×60(L*W*H mm)   三個

內外箱體材質：SUS304#優質不銹鋼板；

保溫層：巖棉

升溫時間:大約40分鐘；控制功能:PID+SSR,數字式顯示；

溫控器：采用CHB401智能溫度控制器。成熟耐用。

溫度范圍:RT-98℃

控制精度：±0.5℃

溫度均勻度：≤2℃

計時功能：1～9999分鐘，附時到報警功能，時間到達后切斷電源；

水位控制：自動補水，缺水斷電功能以防干燒。

電熱管：采用304不銹鋼發熱管.

電源：AC 220V±10% 50Hz  3.0KW

滿足標準：

符合軍規MTL-STP-208F，202